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JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡

簡要描述:JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡
JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析,能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2025-04-23
  • 訪  問  量:132

詳細介紹

品牌其他品牌產地類別進口
應用領域能源,電子/電池,電氣

JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具,對于需要品控的制造工廠也是的。  在這些場景中,用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。

     JSM-IT510 新增的“簡單 SEM"功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它",從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JSM-IT510 新增 “ 簡單 SEM "功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它",從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。


JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡

主要特點                                                                                                                                      

1.   簡單 SEM

只需選擇目標視野

“簡單 SEM"支持日常工作

 

樣品:電子元件    加速電壓:15 kV,放大倍數:×50(上部) ×1,000(下部),信號: BE



JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡



2.   樣品交換導航

從樣品交換引導至自動觀察   安全簡單!

第一步:按照導航指南設置樣品


JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡

                                                            測量樣品高度



第二步:準備抽真空觀察


JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡


*1  樣品臺導航系統(tǒng)(SNS)是選配件

*2  大區(qū)域樣品臺導航系統(tǒng)(SNSLS)是選配件

*3  樣品室相機(CS)是選配件


第三步:自動開始觀察

真空完成后自動成像


JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡


3.   Zeromag

輕松實現光學圖像與SEM圖像之間的無縫轉換

Zeromag 功能簡化了導航,提供從光學圖像到 SEM 圖像的無縫過渡。 SEM、光學圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起,以獲得分析位置的全局視圖。


樣品:菊石化石    加速電壓:7kV   信號:BE


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4.   實時分析 / 實時引導圖 *2

SEM觀察的同時掌握該區(qū)域的元素組成

實時分析是一項在圖像觀察期間實時顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標元素并提供警示。  


JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡


簡單分析

最多點擊3次即可開始EDS分析


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5.   多種高級選項

1.  NEW 低真空混合二次電子探測器(LHSED)*

該新型探測器可以收集電子和光子信號,并提供具有高信噪比和增強形貌信息的圖像



JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡


2. NEW   實時3D*

新多向分割BE探測器*,  獲得的圖像可以顯示為實時3D圖像。 即使樣品具有細微的表面起伏,實時3D也可以直觀的將其清晰的表現出來,并獲取其深度信息。


樣品:螺釘     加速電壓:15kV   放大倍數:x100  信號:BE


JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡


3.  蒙太奇

蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。


樣品:菊石化石    加速電壓:15kV    放大倍數:x150   信號:BE   視野數:13 x 13


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4.  顯示信號深度

此功能實時顯示被測樣品的分析深度(近似數值),對元素分析非常有用。


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